特許

J-GLOBAL ID：200903010769275712

実験基板装置

発明者： 森川 靖之
出願人/特許権者： 株式会社富士通ゼネラル
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-122297
公開番号（公開出願番号）：特開2002-319776
出願日： 2001年04月20日
公開日（公表日）： 2002年10月31日
要約：

【要約】【課題】 実験基板のサイズ及び枚数が変更されても、対応できる実験基板装置を提供する。【解決手段】 四囲に係止孔2aを穿設した実験基板2と、平板状に形成され鏡面状の上面を備えたベース1と、上端に円環状に形成された係止部4cを形成し、下端に挿入ピン4eを突設した円柱部4bと、円形状に形成され前記ベース1の鏡面状の上面に密着する吸盤部4aと、同吸盤部4aの上面に突設され前記挿入ピン4eが挿入される挿入孔を穿孔した座部4dとからなスペーサ4とで実験基板装置を構成する。

請求項（抜粋）：

平板状に形成されたベースと、四囲に係止孔を穿設した実験基板と、上端に前記係止孔に係止する係止部を、下端に前記ベースの上面に接合する接合部を夫々具備した円柱状のスペーサとからなり、前記係止部を前記係止孔に係止して前記実験基板に前記スペーサを装着し、同スペーサの前記接合部を前記ベースの上面に接合させることにより前記実験基板を前記ベースの任意位置に止着してなることを特徴とする実験基板装置。

IPC (2件)：

H05K 7/14 ,  G01R 31/28

FI (4件)：

H05K 7/14 G ,  H05K 7/14 C ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 S

Fターム (13件)：

2G132AA09 ,  2G132AB20 ,  2G132AE21 ,  2G132AJ00 ,  2G132AL06 ,  2G132AL29 ,  2G132AL35 ,  5E348AA03 ,  5E348AA07 ,  5E348AA28 ,  5E348AA32 ,  5E348CC08 ,  5E348FF03