特許
J-GLOBAL ID：200903010780128187
電気的コンポーネントの製造装置を測定するための方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-540034
公開番号（公開出願番号）：特表2001-516503
出願日： 1998年03月19日
公開日（公表日）： 2001年09月25日
要約：
【要約】テスト基板(1)に、自動実装機内で、素子のモデル(3)を取り付ける。このモデルは、所定のマーク(4)を有する。テスト基板には、マーク(4)の近くに、位置の精度の高い局所的な基準マーク(5)が配置されている。位置を分析するためのセンサとして使用される、自動実装機のプリント基板カメラは、連続的にマーク(4)および基準マーク(5)の上に移動する。ここでマーク(4)と基準マーク(5)はそれぞれ、カメラのテスト領域(6)内に位置している。これにより基準マーク(5)に対するマーク(4)の相対位置を、カメラを移動することなく検出することができ、結果的に測定の際の繁雑さが低減される。
請求項（抜粋）：
電気的コンポーネントの製造装置、例えば座標軸にしたがってプリント基板に素子を実装する装置を測定する方法であって、 前記製造装置を用いて、プリント基板の形態を備えたテスト基板(1)の所定の載置位置に、板状の素子モデル(3)を取り付け、 テスト基板(1)の基準マーク(5)に対するモデル(3)の相対位置を、位置を決定する、モデル(3)の光学的な構造的特徴部分(例えば4)に基づいて、光学センサにより求め、 前記構造的特徴部分(例えば4)の理想的位置からの位置の偏差に基づいて、前記電気的コンポーネントの製造装置の制御装置に対する少なくとも1つの補正パラメタを計算する形式の測定方法において、 基準マーク(5)を、モデル(3)の載置位置に局所的に配置し、 構造的特徴部分(例えば4)の位置を、当該構造的特徴部分(例えば4)にそれぞれ対応付けられた局所的な基準マーク(5)に対して相対的に求めることを特徴とする 測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H05K 13/08 Q
, G01B 11/00 H
