特許
J-GLOBAL ID:200903010788292814

自動開先検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-285858
公開番号(公開出願番号):特開平6-137853
出願日: 1992年10月23日
公開日(公表日): 1994年05月20日
要約:
【要約】【目的】 開先の断面形状を推定して、開先の厚さやルートフェースまで測定できる装置を提供すること。【構成】 開先部2にレーザ光3を照射する光学装置4と、光学装置4からのレーザ光3の照射線像を撮像する撮像装置5と、撮像装置5の撮像データから開先部2の表面形状データを求める画像処理器8と、開先部近傍の板厚を測定する超音波板厚計10と、画像処理器8で得られた表面形状データと超音波板厚計10で得られた板厚とから開先部2の断面形状を合成する座標演算装置9と、開先部2の所定寸法を算出する開先形状演算装置12とを備えた。
請求項(抜粋):
開先部にレーザ光を照射する光学装置と、この光学装置からのレーザ光の照射線像を撮像する撮像装置と、この撮像装置の撮像データから開先部の表面形状を推定する表面形状推定装置と、開先部近傍の板厚を測定する超音波板厚計と、表面形状推定装置で得られた表面形状と超音波板厚計で得られた板厚とから開先部の断面形状を合成する断面形状推定装置とを備えた自動開先検査装置。
IPC (5件):
G01B 21/20 ,  B23K 9/095 510 ,  B23K 31/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 17/02

前のページに戻る