特許
J-GLOBAL ID：200903010809463126
塗膜劣化測定用プローブ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-237065
公開番号（公開出願番号）：特開平7-092119
出願日： 1993年09月24日
公開日（公表日）： 1995年04月07日
要約：
【要約】【目的】 液体中に浸っている機器の塗膜2のインピーダンスの測定を、塗膜欠陥部があっても正確にかつ精度良く検出する。【構成】 本体ケース15内の下部に測定用電極16を設けるとともに、この測定用電極16の周囲に測定用電極16と同電位となるガード電極18を設ける。このガード電極18の外周囲に、塗膜2表面に接触しアース回路に接続される接地電極29を設ける。液体中に存する金属の塗膜2表面に測定用電極16を接触させて通電することにより、測定用電極16に流れる電流から塗膜2の劣化を測定する。この場合、測定用電極16に流れる電流の漏れ電流はガード電極18の外側にある接地電極29に流れ、塗膜欠陥部を通して下地金属1に流出・漏洩しないようになる。
請求項（抜粋）：
液体中に存する金属の塗膜表面に測定用電極を接触させて通電することにより、その塗膜の劣化を測定する塗膜劣化測定用プローブにおいて、前記測定用電極の周囲に測定用電極と同電位となるガード電極を設けるとともに、このガード電極と前記測定用電極との電位差を同一に保つための手段を設け、さらに前記ガード電極の外周囲に、前記塗膜表面に接触しアース回路に接続される接地電極を設けたことを特徴とする塗膜劣化測定用プローブ。
IPC (3件)：
G01N 27/00
, G01N 17/02
, G01N 27/26 351
