測定装置における測定偏差自動補正方法

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-154533
公開番号（公開出願番号）：特開平5-002042
出願日： 1991年06月26日
公開日（公表日）： 1993年01月08日
要約：

【要約】【目的】本発明は、測定装置の測定偏差を自動的に補正する方法に関し、測定偏差の補正を簡単に精度良く行うことを目的とする。【構成】当該測定装置には、測定結果Vを記憶する記憶部23と、測定結果Vの演算および記憶部23への書き込み/読み出し制御を行う演算/制御部22とを備えるように構成する。そして、測定装置の使用に先立って、任意の大きさで基準となる物理量E1 を予め測定し、その測定結果VE1(t1) を記憶部23に記憶しておく。後に、被測定物理量E2 を測定しようとする場合は、第1に、再び前記基準物理量E1 を測定してその測定結果VE1(t2) を得、第2に、測定結果VE1(t1) と測定結果VE1(t2) との差 VE1(t1)-VE1(t2) を演算/制御部22で求めておき、第3に、被測定物理量E2 の測定結果VE2(t2) に、前記差 VE1(t1)-VE1(t2) の値を加算した結果を補正された測定結果24として演算/制御部22から出力するよう構成する。

請求項（抜粋）：

物理的な量(E) をセンサ部(2) で測定した結果の値(以下「測定結果」と呼称する)(V) に、該測定物理量(E) 以外の外的な物理量(t) の変化 (t1→t2) に原因して偏差(ΔVE)が含まれている場合に、該偏差(ΔVE) を自動的に補正して正しい測定結果を求める方法であって、前記の被測定物理量(E) に対する測定結果(V) の特性が、前記外的物理量(t)の変化 (t1→t2) に伴って、何れの被測定物理量(E) に対してもその測定結果(V) に同一量の偏差(ΔVE)を生じる場合において、当該測定装置は、センサ部(2) の測定結果(V)を記憶する記憶部(23)と、測定結果(V) の演算が可能であり、かつ、測定結果(V) の記憶部(23)への書き込みと読み出し制御を行う演算/制御部(22)とを備え、測定装置の使用に先立って、任意の大きさで基準となる物理量(E1)を予めセンサ部(2) で測定し、その測定結果(VE1(t1)) を記憶部(23)に記憶しておき、後に、被測定物理量(E2)を測定しようとする場合は、第1に、再び前記基準物理量(E1)をセンサ部(2) で測定してその測定結果(VE1(t2)) を得、第2に、先に基準物理量(E1)を測定した結果(VE1(t1)) と再び基準物理量(E1)を測定した結果(VE1(t2)) との差(VE1(t1)-VE1(t2) ) を演算/制御部(22)で求めておき、第3に、被測定物理量(E2)の測定結果(VE2(t2)) に、前記差(VE1(t1)-VE1(t2)) の値を加算した結果を補正された測定結果(24)として演算/制御部(22)から出力すること、を特徴とする測定装置における測定偏差自動補正方法

IPC (2件)：

G01R 29/08 , G01D 3/04

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭60-079224
特開昭60-010400
特開昭59-154599

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