内部欠陥検出方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森哲也 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-097616
公開番号（公開出願番号）：特開2002-296250
出願日： 2001年03月29日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
要約：

【要約】【課題】内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味した内部欠陥密度を算出するようにして、従来求めていた内部欠陥密度からは予想されない不具合の発生を防止し、歩留りを向上して生産性を良好とした内部欠陥検出方法を提供する。【解決手段】帯状体Sの内部欠陥を超音波探傷装置1を用いて検出する内部欠陥検出方法。帯状体Sの内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥の帯状体Sにおける板厚方向の位置を求め、当該内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味して帯状体Sにおける内部欠陥密度を算出し、内部欠陥密度の大小により内部欠陥の問題度を判断する。

請求項（抜粋）：

帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用いて検出する内部欠陥検出方法において、前記帯状体の内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥の前記帯状体における板厚方向の位置を求め、当該内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味して前記帯状体における内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密度の大小により内部欠陥の問題度を判断することを特徴とする内部欠陥検出方法。

IPC (3件)：

G01N 29/10 504 , G01N 29/08 504 , G01N 29/22 501

FI (3件)：

G01N 29/10 504 , G01N 29/08 504 , G01N 29/22 501

Fターム (10件)：

2G047AA07 , 2G047AB04 , 2G047BA01 , 2G047BA03 , 2G047BB06 , 2G047BC07 , 2G047EA10 , 2G047GG17 , 2G047GG24 , 2G047GG33

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