光沢むらの高精度測定方法および装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：谷義一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-102450
公開番号（公開出願番号）：特開平8-297099
出願日： 1995年04月26日
公開日（公表日）： 1996年11月12日
要約：

【要約】【目的】光沢むらを高精度に定量的に測定する。【構成】 1つの光源21から可視光を対象物23の外表面に照射し、その反射光をテレビカメラ24で受光し、得られた明暗の階調分布を持つ2次元画像を画像解析装置20においてフーリエ変換し、次いでフーリエ逆変換する際に、特定波長範囲において強調係数を用いて画像の明暗を2極化、閉区画を形成する明部または暗部の画像領域を光沢むら部分としてそれぞれ別々に面積を計算し、その面積の分布パラメータから平均面積と面積の標準偏差との積を測定結果として出力する。

請求項（抜粋）：

検査対象を撮像装置により撮像し、画像解析装置により、撮像結果として得られる画像の中から閉区画を形成する明部または暗部の画像領域を前記検査対象の光沢むら部分として検出し、当該検出した閉区画画像領域の各々の面積を算出し、当該算出した閉区画画像領域の分布を算出し、当該算出した閉区画画像領域の平均面積と前記閉区画画像領域の面積の標準偏差との積を、光沢むらの測定結果とすることを特徴とする光沢むらの高精度測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/88 , G01N 21/57

FI (2件)：

G01N 21/88 J , G01N 21/57

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開平4-122844
特開平3-054407
特開平2-082144

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