特許
J-GLOBAL ID：200903010879827753
測距装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-283442
公開番号（公開出願番号）：特開平9-127406
出願日： 1995年10月31日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、投受光レンズの間隔を短縮して装置の小型化、製造コストの低減化を実現すると共に、高い測距精度を有する測距装置を提供する。【解決手段】 発光素子17および受光素子18を有する測距装置において、電気部品が実装される基板19を具備し、この基板19の表面および裏面に発光素子17および受光素子18をそれぞれ配置する。
請求項（抜粋）：
発光素子および受光素子を有する測距装置において、電気部品が実装される基板を具備し、上記基板の表面および裏面に上記発光素子および受光素子をそれぞれ配置したことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/32
, G01C 3/06
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G01C 3/06 A
, G03B 3/00 A
