特許

J-GLOBAL ID：200903010917829390

画像検査装置

発明者： 植田 秀司 ,  小林 彰
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-193857
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034294
出願日： 1991年08月02日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：

【要約】【目的】 電子部品の生産工程において、製品の外観検査、特に、微小なごみ、傷や汚れを自動検査する画像検査装置に関するものである。【構成】 対象物11の画像を撮像する撮像手段12と、アナログ信号をデジタルデータに変換するA/D変換手段13と、デジタル画像データに対して画像演算を行う前処理画像演算手段14と、前記前処理画像演算手段14によって処理されたデジタル画像データを複数枚加算するデジタル画像加算手段と、前記デジタル画像加算手段により作成されたデジタル画像を記憶するフレームメモリー19と、デジタル画像の流れを制御するデジタル画像制御手段と、前記フレームメモリーに記憶されたデジタル画像に対して特徴抽出処理を行う特徴抽出手段24とを備えていることにより高速な異常検出を行う。

請求項（抜粋）：

対象物の画像を撮像する撮像手段と、アナログ信号をデジタルデータに変換するA/D変換手段と、デジタル画像データに対して画像演算を行う前処理画像演算手段と、前記前処理画像演算手段によって処理されたデジタル画像データを複数枚加算するデジタル画像加算手段と、前記デジタル画像加算手段により作成されたデジタル画像を記憶するフレームメモリーと、デジタル画像の流れを制御するデジタル画像制御手段と、前記フレームメモリーに記憶されたデジタル画像に対して特徴を抽出処理を行う特徴抽出手段を備えていることを特徴とする画像検査装置。

IPC (6件)：

G01N 21/88 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/68 ,  G06F 15/68 410 ,  G06F 15/70 330 ,  H04N 7/18