特許
J-GLOBAL ID:200903010928242421

CT装置を用いて検査対象物の螺旋走査により得られた測定値から像を再構成するための方法およびこの方法を実施するためのCT装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-199011
公開番号(公開出願番号):特開2000-051205
出願日: 1999年07月13日
公開日(公表日): 2000年02月22日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 CT装置を用い、検査対象物の螺旋走査により得られた測定値から、像平面に関して検査対象物の層厚みを有する層の像を再構成するための方法を提供する。【解決手段】 各々の投影角に関して、この投影角に属する、像平面からの最大の距離のなかに位置しているすべての測定値が像平面からの螺旋走査の長手方向軸線の方向における空間的な間隔に相応して重み付け関数に従って重み付けされて再構成に取り入れられ、また重み付け関数が、有効な層厚みとピッチとの間の望まれる、機能的に定義された関連が存在しているように、選ばれる過程を含んでいる。
請求項(抜粋):
CT装置を用いて検査対象物の螺旋走査により得られた測定値から像平面に関して検査対象物の層厚みを有する層の像を再構成するための方法であって、検査対象物の周りを回転するX線源と、少なくとも1つの行の検出器要素を有する検出器とを備え、その際に測定値がそれぞれ多数の投影角の1つと螺旋走査の長手方向軸線上のz位置とに対応付けられており、また螺旋走査の間に、検査対象物の周りのX線源の全回転あたり生ずる、検査対象物とX線源および検出器との間の螺旋走査の長手方向軸線の方向の互いに相対的なmm単位でのずれと、螺旋走査の長手方向軸線の方向の検出器の行のmm単位での幅との比として定義された一定のピッチが守られる方法において、各々の投影角に関して、この投影角に属する、像平面からの最大の距離のなかに位置しているすべての測定値が像平面からの螺旋走査の長手方向軸線の方向のその空間的な間隔に相応して重み付け関数に従って重み付けされて再構成に取り入れられ、また重み付け関数が、有効な層厚みとピッチとの間の望まれる、機能的に定義された関連が存在しているように選ばれる過程を含んでいることを特徴とする像を再構成するための方法。
IPC (2件):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 321
FI (2件):
A61B 6/03 350 U ,  A61B 6/03 321 Q
引用特許:
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (7件)
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引用文献:
出願人引用 (2件)
  • "Dual-slice spiral versus single-slice spiral scanning: Comparison of the physical performance of tw
  • "Evaluation of Section Sensitivity Profiles and Image Noise in Spiral CT"
審査官引用 (3件)
  • "Dual-slice spiral versus single-slice spiral scanning: Comparison of the physical performance of tw
  • "Dual-slice spiral versus single-slice spiral scanning: Comparison of the physical performance of tw
  • "Evaluation of Section Sensitivity Profiles and Image Noise in Spiral CT"

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