特許

J-GLOBAL ID：200903010988101827

イオン分析装置

発明者： 猪俣 保 ,  松本 恭知
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-086076
公開番号（公開出願番号）：特開平11-281635
出願日： 1998年03月31日
公開日（公表日）： 1999年10月15日
要約：

【要約】【課題】 サンプルより濃度が高く安定性の高い校正液を用いることにより連続測定を可能にしたイオン分析装置を提供する。【解決手段】 サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサンプルを搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記サンプルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬送液と共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を設けた。

請求項（抜粋）：

サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分析装置において、前記濃縮カラムに一定量のサンプルを搬送するサンプル搬送手段と、所定時間毎に前記サンプルの濃度より高濃度で、かつ、少量の校正液を搬送液と共に前記濃縮カラムに搬送する校正液搬送手段を設けたことを特徴とするイオン分析装置。

IPC (2件)：

G01N 30/04 ,  G01N 30/08

FI (2件)：

G01N 30/04 P ,  G01N 30/08 L

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-113656
  
• 特開平1-113656
  
• 標準試料供給装置及び液体クロマトグラフ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-313885   出願人：株式会社島津製作所
• 特開平3-242549