特許

J-GLOBAL ID：200903010990337145

偏光依存損失の計算方法および測定装置

発明者： デビッド レオナルド ファビン ,  グレゴリー マイケル ウォルター ,  ブルース ミッチェル ナイマン
出願人/特許権者： エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション
代理人 (1件)： 三俣 弘文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-309401
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005461
出願日： 1994年11月21日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 光素子の偏光依存損失(PDL)を、4つの測定値しか要しない決定論的な方法で計算する。【構成】 測定値は相異なる入力偏光状態を用いて得られる。各偏光状態は別個でありその少なくとも1つは楕円偏光である。試験セットは光信号を発生する光源を含む。偏光コントローラが、4つの既知の偏光状態のうちの1つを有する偏光入力信号を生成する。接続手段が、その偏光信号を光素子すなわち試験中のデバイス(DUT)に送る。パワーメータが、試験中の光素子からの偏光信号を受信し、DUTからの偏光信号の強度を決定する。モータまたは類似のアクチュエータ手段が、4つの既知の偏光状態にわたって偏光コントローラを巡回させる。コントローラは、4つの既知の偏光状態に対する偏光信号の測定強度に基づいて光素子のPDLを計算する。

請求項（抜粋）：

ミュラー行列によって表現される透過率を有する光素子の偏光依存損失(PDL)を計算する方法において、(a)光入力信号を発生するステップと、(b)前記入力信号を偏光させて既知の第1偏光状態を有する偏光信号を生成するステップと、(c)前記光素子に前記偏光信号を透過させ、前記ミュラー行列の第1行要素m00、m01、m02およびm03と前記偏光信号を表現するストークスベクトルとの積である強度T0,aを有する出力信号を生成するステップと、(d)前記出力信号の強度T0,aを測定するステップと、(e)第1偏光状態とは異なり相互にも異なる第2、第3および第4の偏光状態であって第1ないし第4の偏光状態のうちの少なくとも1つが直線偏光でないような第2、第3および第4の偏光状態のそれぞれに対してbないしdのステップを繰り返し、第2偏光状態に対する強度T0,b、第3偏光状態に対する強度T0,cおよび第4偏光状態に対する強度T0,dを生成するステップと、(f)前記強度T0,a、T0,b、T0,cおよびT0,dを使用して前記ミュラー行列の第1行要素m00、m01、m02およびm03の値を計算するステップと、(g)前記ミュラー行列の第1行要素m00、m01、m02、およびm03から前記光素子のPDLを計算するステップとからなることを特徴とする偏光依存損失計算方法。

IPC (3件)：

G01J 4/00 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/21