特許

J-GLOBAL ID：200903010991171658

新規の分析方法

発明者： 松屋 毅
出願人/特許権者： 株式会社ヤトロン
代理人 (1件)： 森田 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-346878
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171467
出願日： 1998年12月07日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：

【要約】【課題】 蛍光物質を用いる分析方法であって、より簡便で、且つ高感度な分析方法を提供する。【解決手段】 分析対象物質と特異的に反応する第1リガンドを、反応容器の試料担持面の励起光照射範囲内又は中央領域内に固定化し、(a)前記固定化された第1リガンドと、(b)被検試料と、(c)前記固定化第1リガントとは異なる位置で前記分析対象化合物と特異的に反応し、しかも蛍光物質で標識化された第2のリガンドとを接触させ、前記蛍光物質に特異的な波長の励起光を照射し、そして、前記固定化第1リガンドと分析対象化合物との複合体に結合した前記標識化第2リガンドの標識からの蛍光を検出する。

請求項（抜粋）：

分析対象物質と特異的に反応する第1リガンドを、反応容器の試料担持面の励起光照射範囲内に固定化し、(a)前記固定化された第1リガンドと、(b)被検試料と、(c)前記固定化第1リガントとは異なる位置で前記分析対象化合物と特異的に反応し、しかも蛍光物質で標識化された第2のリガンドとを接触させ、前記蛍光物質に特異的な波長の励起光を照射し、そして、前記固定化第1リガンドと分析対象化合物との複合体に結合した前記標識化第2リガンドの標識からの蛍光を検出することを特徴とする、分析方法。

IPC (3件)：

G01N 33/543 595 ,  G01N 33/543 575 ,  G01N 33/566

FI (3件)：

G01N 33/543 595 ,  G01N 33/543 575 ,  G01N 33/566

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 検査用プレート及び検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-247750   出願人：大日本インキ化学工業株式会社, ディックモールディング株式会社, ニッポン・ディーピーシー・コーポレーション