特許
J-GLOBAL ID:200903011013365161

角度検出装置の角度補正曲線取得方法及び角度検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 天城国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-017367
公開番号(公開出願番号):特開2009-180522
出願日: 2008年01月29日
公開日(公表日): 2009年08月13日
要約:
【課題】少容量メモリでもリアルタイムかつ高精度に角度検出が可能な角度補正曲線取得方法及び角度検出装置を提供する。【解決手段】角度検出装置で検出される全角度に対し、各角度において得られる磁気の強さを検知しその対応関係を角度補正曲線として取得する角度補正曲線取得ステップと、前記角度補正曲線から所定次数以下で近似した近似基本多項式を求める近似基本多項式取得ステップと、前記近似基本多項式と前記角度補正曲線の差曲線の近似誤差多項式を求める近似誤差多項式取得ステップと、前記近似誤差多項式と前記差曲線の誤差が所定値以上になる角度範囲を含む所定の角度範囲を求める角度範囲特定ステップと、前記角度範囲について前記差曲線を近似する近似誤差多項式を取得する近似誤差多項式取得ステップと、前記近似基本多項式とその基本係数及び前記所定角度範囲とその範囲内の近似誤差多項式とその誤差係数を記憶する記憶ステップとを有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
磁気の強さを検知し対応する回転角度を検出する角度検出装置の、磁気に対する角度の補正曲線を得る角度検出装置の角度補正曲線取得方法であって、 この角度検出装置により検出される全角度に対し、各角度において得られる磁気の強さを検知しその対応関係を角度補正曲線として取得する角度補正曲線取得ステップと、 前記角度補正曲線から所定次数以下で近似した近似基本多項式を求める近似基本多項式取得ステップと、 前記近似基本多項式と前記角度補正曲線の差曲線の近似誤差多項式を求める近似誤差多項式取得ステップと、 前記近似誤差多項式と前記差曲線の誤差が所定値以上になる角度範囲を含む所定の角度範囲を求める角度範囲特定ステップと、 前記角度範囲について前記差曲線を近似する近似誤差多項式を取得する近似誤差多項式取得ステップと、 前記近似基本多項式とその基本係数及び前記所定角度範囲とその範囲内の近似誤差多項式とその誤差係数を記憶する記憶ステップと を有することを特徴とする、角度検出装置の角度補正曲線取得方法。
IPC (1件):
G01D 5/12
FI (1件):
G01D5/12 N
Fターム (4件):
2F077AA20 ,  2F077CC02 ,  2F077JJ01 ,  2F077TT66
引用特許:
出願人引用 (1件)

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