特許
J-GLOBAL ID：200903011030380387
液晶表示素子の導通点検査方法と導通点修復方法及び導通点検査修復装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-173775
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340905
出願日： 1992年06月08日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：
【要約】【目的】 コンタクトプローブを用いる場合のような高い位置決め精度が不要で、簡便に導通点の検出を行なえるとともに、不良部位の修復を効率よく行なえるようにする。【構成】 通電状態とした液晶表示パネル1の温度分布を熱画像として捉えて、この熱画像から昇温箇所の導通点を検出するサーモグラフィTGと、このサーモグラフィTGから得られる熱画像にもとづいて導通点の座標値を決定する座標入力装置11と、この座標入力装置11により決定した導通点の座標値にもとづいて導通点の修復を行なうレーザリペア13とを有する。
請求項（抜粋）：
通電状態とした液晶表示素子面の温度分布をサーモグラフィを用いて熱画像として捉え、この熱画像から昇温箇所の導通点を検出することを特徴とする液晶表示素子の導通点検査方法。
IPC (4件)：
G01N 25/72
, G02F 1/13 101
, G02F 1/1343
, G09G 3/18
