特許
J-GLOBAL ID：200903011078585827
不つり合い測定装置の校正方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
末成 幹生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-032145
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310837
出願日： 2002年02月08日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、改良された校正効果を提供し得る不つり合い測定装置の校正方法を提供する。【解決手段】 校正工程中に、2つの軸平面における測定軸回りに、同等または異なる2つの校正質量を同時に回転させ、校正質量により発生された不つり合いから生じる力を測定し、測定された力に対して、不つり合い測定装置の校正の評価を行う。
請求項（抜粋）：
校正工程中の所定の軸および半径方向位置における測定軸回りに、所定の校正質量を回転させ、前記校正質量により発生された不つり合いから生じる力を測定し、前記測定された力に対して、不つり合い測定装置の校正の評価を行う不つり合い測定装置の校正方法であって、校正工程中に、測定軸回りの2つの軸平面において、同等または異なる2つの校正質量を同時に回転させることを特徴とする不つり合い測定装置の校正方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
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