特許
J-GLOBAL ID:200903011124908504

断面像によってガイドされて行われる生検のための定位固定付属装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-309119
公開番号(公開出願番号):特開平8-215198
出願日: 1995年11月28日
公開日(公表日): 1996年08月27日
要約:
【要約】【課題】 生検を行うために最適な貫通孔を確実に選択できるような定位固定付属装置を提供する。【解決手段】 貫通孔6の光学的なマーキングを行うための手段16,18,20,22が設けられており、光学的なマーキングを行うため前記手段が可動のマーク16,18,20,22を有していて、該マークによってマーキング装置に関して、生検のために適当な貫通孔が特徴付けられる。
請求項(抜粋):
断面像によってガイドされて行われる被検体の生検のための定位固定付属装置であって、被検体を固定するための2つの圧迫プレート(2)と、該圧迫プレート(2)に接続された、断面像において可視的なマーキングを生ぜしめるマーキング装置(4)と、前記圧迫プレート(2)に配置された、生検穿刺針のガイドされたアクセスを可能にする複数の貫通孔(6)とが設けられている形式のものにおいて、貫通孔(6)を光学的にマーキングするための手段(16,18,20,22)が設けられており、該手段(16,18,20,22)が、マーキング装置に関して生検のために適当な貫通孔(6)を特徴付ける可動のマーク(16,18,20,22)を有していることを特徴とする、断面像によってガイドされて行われる生検のための定位固定付属装置。

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