特許
J-GLOBAL ID：200903011168573003

光ファイバひずみ検出装置

発明者：
山本郁夫

山本郁夫 について

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佐藤秀城

佐藤秀城 について

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佐々木一正

佐々木一正 について


出願人/特許権者：
株式会社東横エルメス

株式会社東横エルメス について

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株式会社アドヴァンストテクノロジ

株式会社アドヴァンストテクノロジ について


代理人 (1件)： 山口 朔生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-058546
公開番号（公開出願番号）：特開2002-257520
出願日： 2001年03月02日
公開日（公表日）： 2002年09月11日
要約：
【要約】【課題】FBGを利用したひずみ検出装置において、ひずみと温度を分離し、かつ、同時に測定すること。【解決手段】FBGを利用して測定する光ファイバひずみ検出装置において、2ヶ所のFBGをほぼ同一の温度領域に配置し、かつ差動的にひずみを発生させ、2ヶ所のブラッグは長の変化の差と和をとり、ひずみと温度を分離し、同時に測定する。
請求項（抜粋）：
ひずみを検出する光ファイバひずみ検出装置において、光ファイバを保持するセンサ部と、センサ部に保持された光ファイバに形成され、ほぼ同一の温度領域に配置された第1FBG部と第2FBGと、光ファイバに広帯域の光を送出し、反射光を受信する測定装置とを備え、センサ部にひずみが作用すると、第1FBG部と第2FBGに差動的に張力が作用し、第1FBG部と第2FBGから反射してくる反射光の波長が変化することを特徴とする、光ファイバひずみ検出装置。
IPC (6件)：
G01B 11/16 ,  G01C 9/00 ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/02 ,  G02B 6/00 ,  G02B 6/00 346
FI (6件)：
G01B 11/16 Z ,  G01C 9/00 A ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/02 J ,  G02B 6/00 B ,  G02B 6/00 346
Fターム (11件)：
2F065AA37 ,  2F065AA65 ,  2F065FF00 ,  2F065JJ05 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065UU07 ,  2G086KK07 ,  2H038AA05 ,  2H038BA25 ,  2H038CA52
引用特許：
審査官引用 (9件)
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