特許

J-GLOBAL ID：200903011195314907

振動試験装置とこれを用いたモード解析方法

発明者： 江畑 維一
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 堀田 実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-285097
公開番号（公開出願番号）：特開2004-117323
出願日： 2002年09月30日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：

【課題】(1)対象物の変質又は損傷のおそれがなく、実機部品にも品質低下のおそれなく適用可能であり、(2)導電体以外の対象物にも適用でき、(3)小型センサや小型ディスクの場合でも計測が容易であり、かつ(4)加振時間の短縮が容易であり高周波の振動試験への対応ができ、(5)対象物のモード解析ができる振動試験装置とこれを用いたモード解析方法を提供する。【解決手段】互いに放電間隙Gを隔てた1対の電極11を有する放電プローブ12と、電極間に高電圧パルスを印可してその間で放電させ衝撃波Sを発生させる放電加振装置14と、対象物Tの振動X(t)を非接触で検出する非接触式振動計測装置16と、前記高電圧パルスによる加振力F(t)を非接触で検出する非接触式加振力計測装置20とを備え、対象物Tを間隔を隔てた位置から衝撃波Sで加振し、加振力F(t)と対象物の振動X(t)を非接触で検出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

互いに放電間隙Gを隔てた1対の電極(11)を有する放電プローブ(12)と、該電極間に高電圧パルスを印可してその間で放電させ衝撃波Sを発生させる放電加振装置(14)と、対象物Tの振動X(t)を非接触で検出する非接触式振動計測装置(16)と、前記高電圧パルスによる加振力F(t)を非接触で検出する非接触式加振力計測装置(20)とを備え、対象物Tを間隔を隔てた位置から衝撃波Sで加振し、該加振力F(t)と対象物の振動X(t)を非接触で検出する、ことを特徴とする振動試験装置。

IPC (1件)：

G01M7/02

FI (1件)：

G01M7/00 G