特許
J-GLOBAL ID:200903011197375644

重合体、レジスト組成物、および微細パターンが形成された基板の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-112546
公開番号(公開出願番号):特開2009-299036
出願日: 2009年05月07日
公開日(公表日): 2009年12月24日
要約:
【課題】高感度のレジスト膜を形成でき、レジスト組成物を調製する際の溶媒への溶解性に優れた重合体、レジスト組成物、および、このレジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供する。【解決手段】下記式(u)で表される構成単位を有する重合体を用いる。[化1]Rは水素原子またはメチル基を表し、Xは有機基を表す。【選択図】なし
請求項(抜粋):
下記式(u)で表される構成単位を有する、重合体。
IPC (3件):
C08F 220/26 ,  G03F 7/039 ,  H01L 21/027
FI (3件):
C08F220/26 ,  G03F7/039 601 ,  H01L21/30 502R
Fターム (30件):
2H125AF17P ,  2H125AF35P ,  2H125AH13 ,  2H125AH17 ,  2H125AJ14X ,  2H125AJ65X ,  2H125AJ68X ,  2H125AJ69X ,  2H125AN39P ,  2H125CA12 ,  2H125CB09 ,  2H125CC03 ,  2H125CC15 ,  4J100AL08P ,  4J100AL08Q ,  4J100AL08R ,  4J100AL08S ,  4J100BA03P ,  4J100BA03R ,  4J100BA04P ,  4J100BA11S ,  4J100BA22P ,  4J100BC09Q ,  4J100BC09R ,  4J100BC53P ,  4J100BC53S ,  4J100CA04 ,  4J100CA05 ,  4J100CA06 ,  4J100JA38
引用特許:
審査官引用 (2件)

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