特許
J-GLOBAL ID：200903011200517226
高周波小型プローブアセンブリ用クランプテスト装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
後藤 政喜
, 上野 英夫
, 藤井 正弘
, 飯田 雅昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-225401
公開番号（公開出願番号）：特開2007-071872
出願日： 2006年08月22日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：
【課題】より大きな力でプローブ先端をクランプ固定できると共に、プローブ先端を一度に1つずつ個別にクランプ固定することのできるオシロスコーププローブ用テスト装置を提供する。【解決手段】本発明に係るテスト装置は、軸29にそれぞれのプローブ先端に対応した複数のクランプ33、34、35が設けられており、クランプ33、34、35がそれぞれのプローブ先端を基板24の中心導体26またはグラウンドプレーン25に押しつけることを特徴とするものである。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
オシロスコーププローブ用のテスト装置であって、
介在領域により分離された第一及び第二の端部を持つ担体と、
前記担体の前記第一の端部上に配置された第一のRFコネクタと、
前記担体の前記介在領域上に配置され、上に少なくとも第一及び第二の導体を含む伝送線がパターニングされた少なくとも1つの金属面を持つ誘電体基板と、
前記伝送線の前記第一の導体へと接続された前記第一のRFコネクタの第一の導体及び前記伝送線の前記第二の導体へと接続された前記第一のRFコネクタの第二の導体と、
前記誘電体基板が軸と前記担体の介在領域との間に来るように、更には、その軸が前記伝送線を上にパターニングした前記金属面に対して平行となるように、そして前記伝送線の前記導体の1つの軸に対して概ね直角となるように、前記誘電体基板上に配置された軸と、
各々が前記軸を通してそれらを保持する為の貫通穴を持ち、各々が前記貫通穴の一方の側に足部分、前記貫通穴の他方の側にハンドル部分を有する第一及び第二のレバーであって、前記レバーの一方の前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記伝送線の前記第一の導体へと接触させることになり、他方のレバーの前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記伝送線の前記第二の導体へと接触させることになるように配置されている前記第一及び第二のレバーと、
前記第一及び第二のレバーと前記担体との間にそれぞれ配置された第一及び第二のスプリングであって、前記第一及び第二のスプリングが前記第一及び第二のレバーの前記足部分を前記誘電体基板に対して押しつける前記第一及び第二のスプリングと、
を備えることを特徴とするテスト装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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