特許
J-GLOBAL ID:200903011220564921

繰返し応力腐食割れモニタリング装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木村 正巳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-305756
公開番号(公開出願番号):特開平7-134086
出願日: 1993年11月11日
公開日(公表日): 1995年05月23日
要約:
【要約】【目的】 簡便、低コストかつ小形の繰返し応力腐食割れモニタリング装置を提供すること。【構成】 環境チャンバ1の内部を横切るように配置した試験片2の一端を環境チャンバ1にシール3を介して固定すると共に、他端をベローズ4、シール5を介して環境チャンバ1の外部へ突出させる。そして、この外部へ突出させた試験片2の他端に接触する偏心カム6をモータ7の軸8に取り付け、モータ7の回転速度、回転時期をコントローラ9で制御して、偏心カム6を所定のタイミングで回転、停止させ、試験片2に間欠的に変動する曲げ応力を繰返し与えるようにしたもの。
請求項(抜粋):
環境チャンバの内部を横切るように配置した試験片の一端を該環境チャンバに固定すると共に、他端をベローズを介して前記環境チャンバの外部へ突出させ、この外部へ突出させた試験片の他端に接触する偏心カムをモータの軸に取り付けたことを特徴とする繰返し応力腐食割れモニタリング装置。
IPC (2件):
G01N 3/32 ,  G01N 3/34

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