特許
J-GLOBAL ID:200903011235838246

パターンデータ比較装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高田 守
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-010928
公開番号(公開出願番号):特開平5-205053
出願日: 1992年01月24日
公開日(公表日): 1993年08月13日
要約:
【要約】【目的】 比較するデータが大規模集積回路などの大きいものでもデータ量を抑え短時間で比較できるようにすることを目的とする。【構成】 比較する2つの2図形データ1は、その階層構造を階層展開手段3でを展開された後、パターン分割手段4で規格化されたパターンに分解され、その中より繰り返しパターンの部分は「Array」記述に変換され1つのものとして表現される。その後2図形データは、再び図形階層化手段6で階層構造化されてから比較される。
請求項(抜粋):
2つのパターンデータを比較するパターンデータ比較装置において、階層構造となっているパターンデータを展開する展開手段と、前記展開手段により展開されたパターンデータを規格化された図形に分解する分割手段と、前記分割手段により規格化されたパターンデータ中より同形のパターンの繰り返しにより構成される繰り返しパターンを探索する探索手段と、前記繰り返しパターンから構成されるデータ部分をを1つのものとして表現する「Array」記述に変換するする「Array」記述変換手段と、展開されているパターンデータを階層構造にする階層化手段と、前記階層化手段により階層化されたパターンデータを領域分割して比較する分割比較手段とを有することを特徴とするパターンデータ比較装置。
IPC (5件):
G06F 15/70 455 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/62 405 ,  H01L 21/027 ,  H01L 21/66

前のページに戻る