画像処理方法、画像処理装置およびX線CT装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：井島藤治 , 鮫島信重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-146705
公開番号（公開出願番号）：特開2005-323926
出願日： 2004年05月17日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：

【課題】複数の構造物情報を含む画像情報で、部分的にせよ画質劣化を伴わない画像処理方法、画像処理装置およびX線CT装置を実現する。【解決手段】断層画像情報の処理領域から、生成手段210により、画素値ごとの累積画素数である累積分布関数を生成し、この累積分布関数から、導出手段220により、画素値の局所標準偏差を導出し、算定手段230により、この局所標準偏差の最小値である最小SDに基づいて複数の領域判定閾値を算定し、分類手段240により、この領域判定閾値から局所標準偏差ひいてはこの局所標準偏差を有する画素を分類し、また、選択手段250により、この領域判定閾値による分類ごとに平滑化フィルタの重み係数Wijを選択し、処理手段260により、断層画像情報200の画素にこの重み係数Wijを用いて平滑化処理を行うことを実現させる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

複数の画素から構成されるデジタル画像情報の画素値ごとに、前記画素値を越えない前記デジタル画像情報に含まれる画素の数である累積画素数を求める累積分布関数を生成し、前記累積分布関数を用いて、前記累積画素数の規定画素数からなる探査区間で、画素値の局所的な標準偏差である局所標準偏差を導出すると同時に、前記探査区間がすべての前記累積画素数を網羅するように前記探査区間を移動して前記導出を繰り返し、前記繰り返しにより取得される複数の局所標準偏差の最小値を求め、前記最小値に複数の領域指定値を乗算して前記複数の領域判定閾値を算定し、前記複数の領域判定閾値に基づいて前記複数の局所標準偏差を分類し、前記分類ごとに画像処理パラメータを選択し、前記分類で指定される局所標準偏差の前記デジタル画像情報の領域に、前記画像処理パラメータを用いて画像処理をすることを特徴とする画像処理方法。

IPC (4件)：

A61B6/03 , G06T5/20 , G06T5/40 , H04N1/40

FI (5件)：

A61B6/03 360B , G06T5/20 B , G06T5/20 C , G06T5/40 , H04N1/40 101Z

Fターム (41件)：

4C093AA22 , 4C093CA06 , 4C093DA03 , 4C093FD06 , 4C093FD09 , 4C093FF06 , 4C093FF28 , 5B057AA09 , 5B057BA03 , 5B057BA24 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC03 , 5B057CE03 , 5B057CE05 , 5B057CE06 , 5B057CH09 , 5B057CH18 , 5B057DA08 , 5B057DA17 , 5B057DB02 , 5B057DB05 , 5B057DB09 , 5B057DC16 , 5B057DC23 , 5B057DC36 , 5C077LL19 , 5C077MP01 , 5C077PP02 , 5C077PP03 , 5C077PP43 , 5C077PP68 , 5C077PQ08 , 5C077PQ18 , 5C077SS01 , 5C077TT10

前のページに戻る