特許

J-GLOBAL ID：200903011396096738

座標測定機及びその測定方法

発明者： 吉田 均
出願人/特許権者： 株式会社東京精密
代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-048003
公開番号（公開出願番号）：特開平6-050749
出願日： 1993年03月09日
公開日（公表日）： 1994年02月25日
要約：

【要約】【目的】 幾何形状の指示ミスを防止し、ジョイスティック操作を中断せずに被測定物の幾何形状を測定する。【構成】 データ取込み部42でプローブ36の測定方向と被測定物48の測定値を取り込み、幾何形状計算部44はデータ取込み部から入力された測定値と、予め入力されている「直線、円」等の幾何形状を表す数式とに基づいてそれぞれの幾何形状の誤差を算出する。そして、幾何形状認識部46は幾何形状計算部44で算出された「直線、円」等のそれぞれの形状誤差を比較して形状誤差が最も小さい幾何形状を認識し、さらに、認識された形状誤差が最も小さい幾何形状と前記データ取込み部から入力されたプローブの測定方向とに基づいて最適な幾何形状を再認識する。従って、測定前に被測定物48の幾何形状をキー入力する工程を除去できる。また、被測定物48の幾何形状の確定測定点を得る毎に「点、直線、円」等の特徴に基づいて、被測定物48の幾何形状を自動的に設定することができるので、短時間で幾何形状を認識することができる。

請求項（抜粋）：

定盤に載置された被測定物に測定子を接触させて被測定物の形状を測定する座標測定機において、前記測定子の測定方向を取り込むと共に前記測定子が前記被測定物に接触した時の測定値を取り込むデータ取込み部と、該データ取込み部から入力された前記被測定物の測定値と、予め入力されている複数の幾何形状を表す各々の数式とに基づいて各々の幾何形状の誤差を算出する幾何形状計算部と、該幾何形状計算部で算出された前記各々の幾何形状の形状誤差を比較して該形状誤差が最も小さい幾何形状を認識し、さらに、前記認識された形状誤差が最も小さい幾何形状と前記データ取込み部から入力された測定子の測定方向とに基づいて最適な幾何形状を再認識する幾何形状認識部と、前記幾何形状認識部で認識された幾何形状又は前記再認識された幾何形状のデータを表示するデータ表示部と、を備えたことを特徴とする座標測定機。

IPC (3件)：

G01B 21/20 101 ,  G06F 3/03 360 ,  G06F 3/03 380