特許
J-GLOBAL ID:200903011436502211
3次元位置姿勢測定用マーク、及び3次元位置姿勢測定方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
平田 忠雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-270381
公開番号(公開出願番号):特開平9-113224
出願日: 1995年10月18日
公開日(公表日): 1997年05月02日
要約:
【要約】【課題】 撮像ユニットの簡素化及びコストダウンを図ること。【解決手段】 測定対象物1の対象表面2に形成され、平行でない2直線L1 ,L2 を有するマーク3に基づくマーク像3a,3bを、1次元光センサ6a,6b,6c,6dが配置された結像面7a,7bに結像させて検出することによりマークの3次元での位置と姿勢を測定する。
請求項(抜粋):
所定の平面の領域内に形成され、1つの交点を提供する平行でない2つの線分を含み、前記1つの交点は位置測定の基準点であり、前記2つの線分は姿勢測定の基準線であることを特徴とする3次元位置姿勢測定用マーク。
IPC (3件):
G01B 11/00
, G01B 11/26
, G01C 3/06
FI (3件):
G01B 11/00 H
, G01B 11/26 H
, G01C 3/06 V
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