特許
J-GLOBAL ID：200903011442104546
外観検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-190932
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043162
出願日： 1995年07月26日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：
【要約】【課題】被検査物の正常な部分と他の部分との濃度差が比較的小さい場合でも適切なしきい値を設定し、検査対象にならない領域を確実に除外する。【解決手段】検査ウインドウの中に互いに交差しない複数本の検査ラインを設定し、各検査ライン上に複数個の濃度測定点を設定する(S102)。次に、各検査ラインごとに濃度測定点の濃度の最頻値を求め、最頻値に対して高濃度側と低濃度側との少なくとも一方に規定のオフセット値だけ偏移させた濃度しきい値を設定する(S103)。各検査ラインごとの濃度しきい値を用いて各検査ラインごとの画素を2値化することによって検査ウインドウ内から除外候補画素を抽出した後(S104)、非検査候補領域の中の濃度測定点の個数を求め、この個数が所定個数以上である非検査候補領域を検査ウインドウから除外した検査対象領域についてのみ被検査物の外観を検査する(S105)。
請求項（抜粋）：
被検査物を含む空間領域を撮像手段により撮像して得た濃淡画像内に被検査物の少なくとも一部領域を含む検査ウインドウを設定し、検査ウインドウ内についての被検査物の外観を検査する方法において、検査ウインドウの中に互いに交差しない複数本の検査ラインを設定するとともに、各検査ライン上に複数個の濃度測定点を設定し、各検査ラインごとに濃度測定点の濃度の最頻値を求め、最頻値に対して高濃度側と低濃度側との少なくとも一方に規定のオフセット値だけ偏移させた濃度しきい値を設定するとともに、各検査ラインごとの濃度しきい値を用いて各検査ラインごとの画素を2値化することによって検査ウインドウ内から除外候補画素を抽出した後、隣接する除外候補画素のまとまりである非検査候補領域の中の濃度測定点の個数を求め、この個数が所定個数以上である非検査候補領域を非検査領域とし、検査ウインドウから非検査領域を除外した検査対象領域についてのみ被検査物の外観を検査することを特徴とする外観検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/88 J
, G06F 15/62 400
