オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数X線検出器

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：松本研一 , 小倉博 , 黒川俊久 , 荒川聡志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-120076
公開番号（公開出願番号）：特開2009-018154
出願日： 2008年05月02日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：

【課題】オーバーレンジ論理制御を伴う光子計数X線検出器を提供する。【解決手段】CT検出器は、X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換する第1の検出器252と、X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換し、第1の検出器252を透過したX線を受け取るように配置される第2の検出器254とを含む。論理コントローラ262は、第1の検出器および第2の検出器に電気的に接続され、第1の検出器252の飽和レベルの量を表す第2の検出器254からの論理出力信号を受け取り、論理出力信号を閾値と比較し、比較に基づいて、第1の検出器252、第2の検出器254、またはそれらの組合せからの電気信号を画像チェーンに出力する。【選択図】図25

請求項（抜粋）：

X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換するように構成される第1の検出器(202、252)と、 X線撮影エネルギーをエネルギー感知X線撮影データを表す電気信号に変換するように構成され、前記第1の検出器(202、252)を透過したX線を受け取るように配置される第2の検出器(204、254)と、前記第1の検出器(202、252)および前記第2の検出器(204、254)に電気的に接続される論理コントローラ(262)であって、前記第1の検出器(202、252)の飽和レベルの量を表す前記第2の検出器(204、254)からの論理出力信号(260)を受け取り、前記論理出力信号(260)を閾値と比較し、前記比較に基づいて、前記第1の検出器(202、252)、前記第2の検出器(204、254)、またはそれらの組合せからの電気信号を画像チェーンに出力する、ように構成される論理コントローラ(262)と、を備えるコンピュータ断層撮影(CT)検出器(200)。

IPC (4件)：

A61B 6/03 , G01T 1/161 , G01T 1/24 , G01T 7/00

FI (5件)：

A61B6/03 320R , G01T1/161 C , G01T1/24 , G01T7/00 A , A61B6/03 320Y

Fターム (23件)：

2G088EE03 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088FF07 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088JJ09 , 2G088JJ33 , 2G088KK11 , 2G088KK16 , 2G088KK29 , 2G088LL11 , 2G088LL15 , 2G088LL18 , 4C093CA37 , 4C093EB12 , 4C093EB16 , 4C093EB20 , 5F049MA01 , 5F049NB10 , 5F049RA02 , 5F049UA01 , 5F049WA07

引用特許：

出願人引用 (18件)

米国特許第5218624号
米国特許第5400378号
米国特許出願第20020085664号

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