特許

J-GLOBAL ID：200903011512389357

半導体検出器

発明者： 佐藤 典仁 ,  渡辺 広綱 ,  斎藤 数弘
出願人/特許権者： 株式会社千代田テクノル ,  東電工業株式会社 ,  有限会社 エスディー技研
代理人 (1件)： 早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-156372
公開番号（公開出願番号）：特開2002-350550
出願日： 2001年05月25日
公開日（公表日）： 2002年12月04日
要約：

【要約】【課題】 複数の機器を携帯して、現場内の測定点を移動して空間線量当量率の測定および表面汚染密度の測定を行う測定作業の大きな作業負荷を軽減し、一個の測定器具で空間線量当量率と表面汚染密度の測定を任意に行えるようにすることにより、測定の迅速性と正確性を確保する。【解決手段】表面汚染密度測定に必要な面積を有する半導体検出器を複数分割して、各分割部分にそれぞれ独立した電極と配線を施し、複数の分割部分を一体に統合使用して表面汚染密度測定を行うと共に、複数の分割部分を一体または独立した状態で使用して空間線量当量率測定を行わしめることを可能にして半導体検出器を得る。

請求項（抜粋）：

表面汚染密度測定に必要な面積を有する半導体検出器を複数分割して、各分割部分にそれぞれ独立した電極と配線を施し、複数の検出器を一体に統合使用して表面汚染密度測定を行うと共に、複数の検出器を一体または独立した状態で使用して空間線量当量率測定を行わしめることを特徴とする半導体検出器。

IPC (7件)：

G01T 1/24 ,  G01T 1/16 ,  G01T 1/169 ,  G21C 17/00 ,  H01L 31/09 ,  G21F 5/12 ,  G21F 9/00

FI (7件)：

G01T 1/24 ,  G01T 1/16 A ,  G01T 1/169 A ,  G21F 9/00 Z ,  H01L 31/00 A ,  G21C 17/00 D ,  G21F 5/00 E

Fターム (30件)：

2G075CA06 ,  2G075CA49 ,  2G075DA08 ,  2G075FA05 ,  2G075FA07 ,  2G075FA12 ,  2G075FA18 ,  2G075FC03 ,  2G075FC14 ,  2G075GA21 ,  2G075GA25 ,  2G075GA38 ,  2G088EE11 ,  2G088EE17 ,  2G088EE21 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ32 ,  2G088JJ33 ,  2G088JJ37 ,  2G088KK29 ,  2G088LL11 ,  5F088AB02 ,  5F088BA03 ,  5F088BB06 ,  5F088JA03 ,  5F088LA07