特許
J-GLOBAL ID:200903011536772402
質量分析装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-167139
公開番号(公開出願番号):特開2001-343363
出願日: 2000年06月05日
公開日(公表日): 2001年12月14日
要約:
【要約】【課題】 イオン化室の内部状態を観察し易くする。【解決手段】 イオン化室11を内部に形成するチャンバ30に窓開口31を設け、内側面に撥水性コーティングを施した凸レンズを窓板として取り付ける。また、その窓板内側に向けて乾燥ガスを吹き出すガス供給管を配設する。これにより、外側から見たときに内部が拡大されて見えるのでプローブ15の微妙な位置調整が可能であるとともに、窓板の内側が曇るのを防止することができる。
請求項(抜粋):
試料液を略大気圧にあるイオン化室内に噴霧してイオン化し、そのイオンを質量分析部へ導入する質量分析装置において、前記イオン化室の壁面に透視窓を設けるとともに、該透視窓の窓板内面に乾燥ガスを吹き付けるためのガス供給手段を該イオン化室内部に配設したことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N 27/62 X
, G01N 27/62 F
, G01N 30/72 E
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