特許
J-GLOBAL ID：200903011542843605
光電変換素子の検査方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
仁科 勝史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-163483
公開番号（公開出願番号）：特開2001-345481
出願日： 2000年05月31日
公開日（公表日）： 2001年12月14日
要約：
【要約】【課題】本発明は、チップLED等の光電変換素子に外傷を与えることなく電極部の断線不良が確実に検出できる光電変換素子の検査方法を提供するものである。【解決手段】本発明は以下の手段を有する光電変換素子の検査方法である。第1に、下面側に電極、上面側に発光部もしくは受光部を備えた光電変換素子の電極に通電部材を接触させて検査する光電変換素子の検査方法とする。第2に、側面を保持された素子の下面側の電極に通電部材を接触させる。第3に上面側に透光性を有する接触部材を接触させる。第4に、通電部材と接触部材で素子を挟んだ状態で検査する。
請求項（抜粋）：
下面側に電極を備え上面側に発光部もしくは受光部を備えた光電変換素子の電極に、通電部材を接触させて検査を行う光電変換素子の検査方法において、側面を保持された素子の下面側の電極に通電部材を接触させると共に上面側に透光性を有する接触部材を接触させ、通電部材と接触部材で素子を挟んだ状態で検査することを特徴とする光電変換素子の検査方法。
Fターム (2件)：
引用特許：
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