特許

J-GLOBAL ID：200903011569698380

ビット誤り測定器

発明者： 島脇 多広 ,  五月女 哲夫 ,  中島 孝之
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-036527
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225263
出願日： 1994年02月09日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、試験パターンのどの位置で、どの範囲で、誤り率がどんな値になっているのかを分けて誤り率を測定することを目的とする。【構成】 上記課題を解決するために、本発明の構成では、被測定信号61との照合用の試験パターンを収容した試験パターン発生器62からの同期信号62bを受けて、試験パターンの任意の領域を検出して、この領域のカウント・イネーブル信号10aを出力するパターン位置検出部11を設け、カウント・イネーブル信号10aを受けて、照合器65からのビット誤り検出信号のカウントを開始又は停止するエラー・カウンタ70を設け、これによって、被測定信号61の中で、試験パターンの任意の領域の誤り率を測定する構成。

請求項（抜粋）：

被測定信号(61)の誤り率を試験パターンの領域別に分割して測定する場合において、被測定信号(61)との照合用の試験パターンを収容した試験パターン発生器(62)からの同期信号(62b)を受けて、試験パターンの任意の領域を検出して、この領域のカウント・イネーブル信号(10a)を出力するパターン位置検出部(11)を設け、当該カウント・イネーブル信号(10a)を受けて、照合器(65)からのビット誤り検出信号のカウントを開始又は停止するエラー・カウンタ(70)を設け、これによって、被測定信号(61)の中で、試験パターンの任意の領域の誤り率を測定する手段とし、以上を具備していることを特徴としたビット誤り測定器。