特許
J-GLOBAL ID：200903011572155681
大気圧イオン化質量分析方法及び分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-007359
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074940
出願日： 1993年01月20日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 十分な高感度計測ができなかった超微量成分について高感度計測を達成することの可能な大気圧イオン化質量分析方法及び装置を提供すること。【構成】 主成分イオンが微量成分分子をイオン化するよりも高速に微量成分分子をイオン化する第三成分イオンをイオン化領域に存在させ、該第三成分イオンと微量成分分子とのイオン-分子反応により効能率に微量成分分子をイオン化させることを特徴とする大気圧イオン化質量分析方法とすること、及び、試料ガス導入管7にモレキュラーシーブトラップ3を設け、さらに該モレキュラーシーブトラップ3よりも下流側の上記試料ガス導入管7にモレキュラーシーブトラップ4を有するガス導入管を分岐結合した構成からなり、上記試料ガスが窒素である場合に、上記分岐結合導入管から導入されるガスがアルゴンであことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
1気圧付近の圧力でコロナ放電または放射線による一次イオン化とイオン-分子反応による二次イオン化とにより試料ガス中に含まれる微量成分のイオンを生成させ、該生成イオンを高真空の質量分析計に導き、質量分離して検出する質量分析方法において、主成分イオンが微量成分分子をイオン化するよりも高速に微量成分分子をイオン化する第三成分イオンをイオン化領域に存在させ、該第三成分イオンと微量成分分子とのイオン-分子反応により微量成分分子を高能率にイオン化させることを特徴とする大気圧イオン化質量分析方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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