特許
J-GLOBAL ID：200903011584456547
プリント基板の検査方法および検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
土橋 博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-086288
公開番号（公開出願番号）：特開平10-282179
出願日： 1997年04月04日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：
【要約】【課題】必要なプローブの本数を減らし、特別に細いプローブを用いる必要性を低下させ、高い位置精度を要求されるプローブの本数を減らすために、回路上の1本の信号線(これはプリント基板の1本のパターンに相当する)にプローブを1本立てるだけで、ベアボードの不良を検査できる方法および装置を提供することを目的とする。【解決手段】プリント基板のパターンに電気的に接続させるためのプローブと、前記プリント基板側の面が絶縁層で、反対側の面が導電層で形成された部材を用いて電子部品が実装されていないプリント基板を検査する方法において、前記プローブを前記プリント基板のあるパターンに当接させ、前記部材を該パターンの別の場所に当接させ、前記プローブと前記導電層の間のコンデンサ容量を測定することにより、該パターンの断線を検査することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
プリント基板のパターンに電気的に接続させるためのプローブと、前記プリント基板側の面が絶縁層で、反対側の面が導電層で形成された部材を用いて電子部品が実装されていないプリント基板を検査する方法において、前記プローブを前記プリント基板のあるパターンに当接させ、前記部材を該パターンの別の場所に当接させ、前記プローブと前記導電層の間のコンデンサ容量を測定することにより、該パターンの断線を検査することを特徴とするプリント基板の検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, G01R 1/06
, G01R 31/28
G01R 31/02
, G01R 1/06 F
, G01R 31/28 K
