特許
J-GLOBAL ID：200903011672501544

状態評価装置

発明者：
上山 智嗣

上山 智嗣 について

, 
守川 彰

守川 彰 について

, 
出尾 晋一

出尾 晋一 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (3件)： 河宮 治 ,  石野 正弘 ,  稲葉 和久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-068583
公開番号（公開出願番号）：特開2006-250766
出願日： 2005年03月11日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：
【課題】 高感度、低コスト、高精度の状態評価装置を提供する。【解決手段】 状態評価装置は、第1の状態から、所定の環境に置かれることによって第2の状態に変化する指標物質と、第1波長の光を指標物質に照射する第1発光デバイスと、第1波長と異なる第2波長の光を指標物質に照射する第2発光デバイスと、指標物質からの反射光又は透過光を受光して電気信号を出力する受光デバイスと、第1発光デバイスから指標物質に前記第1波長の光を照射し、受光デバイスで指標物質からの反射光又は透過光を受光して出力される第1電気信号を観測し、第2発光デバイスから指標物質に第2波長の光を照射し、受光デバイスで指標物質からの反射光又は透過光を受光して出力される第2電気信号を観測し、第1電気信号と第2電気信号とに基づいて指標物質が第1状態であるか前記第2状態であるかを判別する制御部とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
第1の状態から、所定の環境に置かれることによって第2の状態に変化する指標物質と、 第1波長の光を前記指標物質に照射する第1発光デバイスと、 前記第1波長と異なる第2波長の光を前記指標物質に照射する第2発光デバイスと、 前記指標物質からの反射光又は透過光を受光して電気信号を出力する受光デバイスと、 前記第1発光デバイスから前記指標物質に前記第1波長の光を照射し、前記受光デバイスで前記指標物質からの反射光又は透過光を受光して出力される第1電気信号を観測し、前記第2発光デバイスから前記指標物質に前記第2波長の光を照射し、前記受光デバイスで前記指標物質からの反射光又は透過光を受光して出力される第2電気信号を観測し、前記第1電気信号と前記第2電気信号とに基づいて前記指標物質が前記第1状態であるか前記第2状態であるかを判別する制御部と を備えることを特徴とする状態評価装置。
IPC (4件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/78
FI (5件)：
G01N21/27 B ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/35 Z ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/78 C
Fターム (39件)：
2G043AA03 ,  2G043BA09 ,  2G043BA17 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043HA11 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G054EA04 ,  2G054EA05 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059CC04 ,  2G059CC08 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE12 ,  2G059FF12 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK02 ,  2G059KK04
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特開昭59-012323号公報(全頁および図3)
審査官引用 (6件)
  • 反射率測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-318423   出願人：株式会社日立製作所
  • 特公平8-020364
  • 特公平8-020364
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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