特許

J-GLOBAL ID：200903011676213373

試験システム

発明者： 井上 秀明
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-039650
公開番号（公開出願番号）：特開2002-244859
出願日： 2001年02月16日
公開日（公表日）： 2002年08月30日
要約：

【要約】【課題】制御装置が測定装置の制御ソフトウェアのバージョンを自動認識できるようにすると共に、制御装置にインストールされたバージョンの異なる複数の制御ソフトウェアを、接続したい測定装置の制御ソフトウェアと同一のバージョンに切替えて両者を接続することができるようにした試験システムを提供する。【解決手段】測定装置とそれを制御する制御装置が通信回線上に接続された試験システムにおいて、前記制御装置は、バージョンが異なる複数の制御ソフトウェアを有し、目的とする前記測定装置に一致するバージョンの制御ソフトウェアを選択して、その測定装置との接続を確立する機能を備える。

請求項（抜粋）：

測定装置とそれを制御する制御装置が通信回線上に接続された試験システムにおいて、前記制御装置は、バージョンが異なる複数の制御ソフトウェアを有し、目的とする前記測定装置に一致するバージョンの制御ソフトウェアを選択して、その測定装置との接続を確立する機能を有したことを特徴とする試験システム。

IPC (3件)：

G06F 9/445 ,  G01R 31/28 ,  G06F 13/10 320

FI (3件)：

G06F 13/10 320 A ,  G06F 9/06 650 B ,  G01R 31/28 H

Fターム (8件)：

2G132AA00 ,  2G132AE24 ,  2G132AL13 ,  2G132AL26 ,  5B014FA06 ,  5B014HC05 ,  5B076AB17 ,  5B076AC06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• サービスプロセッサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-268585   出願人：富士通株式会社
• 特開平1-204550
  
• 特開昭60-252275
  
• 特開平4-239301