特許

J-GLOBAL ID：200903011770910630

画像支持体上の試験パターンの補色でない照光を使用してセンサアーチファクトを補償するように印刷システムを較正するシステムおよびプリンタ

発明者： イェキン チャン ,  ハワード エイ ミゼス ,  ルオ チェン
出願人/特許権者： ゼロックス コーポレイション
代理人 (2件)： 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-199159
公開番号（公開出願番号）：特開2009-040049
出願日： 2008年08月01日
公開日（公表日）： 2009年02月26日
要約：

【課題】センサアーチファクトを低減する。【解決手段】試験パターン内の第1の単色を有する複数の画素を画像支持体218上へ射出する印刷ヘッド214と、試験パターンを照光する光源220と、試験パターンの第1の単色の補色でない色を有する光に対する試験パターンの第1の部分の反射率を測定し、試験パターンの第1の単色の補色である光に対する試験パターンの第1の部分の反射率を測定し、かつ補色光に対する、試験パターンの第1の部分に重複する領域を含む試験パターンの第2の部分の反射率を測定する光センサ224と、補色でない光に対して測定された第1の部分の反射率を変倍して、重複領域内の、補色光に対して測定された第1の部分の反射率と、補色光に対して測定された第2の部分の反射率との差を最小化するように構成されたセンサ制御装置204とを備える。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

反射率測定値から光センサアーチファクトを除去するシステムであって、 試験パターン内の第1の単色を有する複数の画素を画像支持体上へ射出する印刷ヘッドと、 前記画像支持体上の前記試験パターンを光で照光する光源と、 前記試験パターンの前記第1の単色の補色でない色を有する光に対する前記試験パターンの第1の部分の反射率を測定し、前記試験パターンの前記第1の単色の補色である光に対する前記試験パターンの前記第1の部分の反射率を測定し、かつ前記補色光に対する、前記試験パターンの前記第1の部分に重複する領域を含む前記試験パターンの第2の部分の反射率を測定する光センサと、 前記補色でない光に対して測定された前記第1の部分の前記反射率を変倍して、前記重複領域内の、前記補色光に対して測定された前記第1の部分の前記反射率と、前記補色光に対して測定された前記第2の部分の前記反射率との差を最小化するように構成されたセンサ制御装置とを備えることを特徴とするシステム。

IPC (1件)：

B41J 2/01

FI (1件)：

B41J3/04 101Z

Fターム (7件)：

2C056EA04 ,  2C056EA11 ,  2C056EB27 ,  2C056EB59 ,  2C056EE02 ,  2C056HA58 ,  2C056KD06

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許6494570号明細書