特許
J-GLOBAL ID：200903011786179758
表面疵検査方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-064015
公開番号（公開出願番号）：特開平8-261951
出願日： 1995年03月23日
公開日（公表日）： 1996年10月11日
要約：
【要約】【目的】 鋼板等に発生する疵種が無害なものか識別できる表面疵検査方法及びその装置を提供することを目的とする。【構成】 レーザ発信器10からのレーザ光が回転反射体12を介して鋼板S表面に照射され、その反射光を集光レンズ14で空間フィルタ16を介して光電変換器18で受光され、その画像信号が制御回路1に入力され、その画像処理された画像信号が特徴抽出手段5に入力され、画像処理されて統計処理による疵分布作成手段6に入力され、現在の疵分布データと実績疵処理手段7から読み出される疵分布データとを識別手段8で参照して線状疵を特定する表面疵検査装置である。
請求項（抜粋）：
帯状体表面を光学的に走査して得られる画像情報に基づき該帯状体表面の疵種認識を行う表面疵検査方法において、前記帯状体の長手方向を所定間隔に区分し、各区間から得られる画像情報によってヒストグラム法による該長手方向の疵分布を作成し、前記疵分布の統計的情報と、前記帯状体表面と同一対象の過去に発生した疵分布の統計的情報とを比較し、前記帯状体表面に発生する疵種の認識を行って線状疵を特定することを特徴とする表面疵検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/89 B
, G01B 11/30 E
