特許
J-GLOBAL ID：200903011799266706
実装基板外観検査装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-090513
公開番号（公開出願番号）：特開平5-291800
出願日： 1992年04月10日
公開日（公表日）： 1993年11月05日
要約：
【要約】【目的】 演算手段の動作がデータ検出手段の動作に制限されないようにして全体の動作時間を短くすることができる実装基板外観検査装置を提供する。【構成】 被検査対象基板1上の電子部品2の実装状態のデータを記憶するフレームメモリ4をデュアルポートとする。データ検出手段3により採取した電子部品2の実装状態のデータをフレームメモリ4のODD領域41とEVEN領域42に交互に格納する。いずれかの領域41、若しくは42にデータを格納している間に他方の領域42、若しくは41に格納されているデータを演算手段5により取り出し、処理、判定を行う。データ検出手段3によるフレームメモリ4に対するデータの格納と、演算手段5によるフレームメモリ4からのデータの取り出し、処理、判定を同時に行うことができる。
請求項（抜粋）：
被検査対象基板上の部品の実装状態のデータを採取するデータ検出手段と、このデータ検出手段により採取されたデータを、2つに分けた領域に交互に格納し、取り出すことができるデュアルポートのフレームメモリと、このフレームメモリの一方の領域に上記データ検出手段によりデータを格納している間に他方の領域に格納されているデータを取り出し、画像処理的な手法を用いて処理、判定することができる演算手段とを備えた実装基板外観検査装置。
IPC (4件)：
H05K 13/08
, G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
