特許
J-GLOBAL ID：200903011814485762
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 幸彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-241898
公開番号（公開出願番号）：特開平5-082080
出願日： 1991年09月20日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：
【要約】【目的】質量分析計において検出イオン強度を最大にする条件の設定を自動で行い条件設定の時間を短縮する。さらに自動設定のためより正しい最適条件を選択できる。【構成】イオン強度で条件の調節を行うソフトウェアを有する。【効果】短時間でより正しいイオン検出最適条件を選択できる。
請求項（抜粋）：
細管を通じて試料が溶解されている液体を真空中、または大気中に導入噴霧する手段を備え、イオン化を行なう質量分析計において、そのイオン化パラメーターの自動調節を検出イオン強度によって最適化することを特徴とする質量分析計。
IPC (2件)：
引用特許：
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