特許
J-GLOBAL ID：200903011814984394
アンテナ放射パターン測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古谷 史旺
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-016001
公開番号（公開出願番号）：特開平8-211117
出願日： 1995年02月02日
公開日（公表日）： 1996年08月20日
要約：
【要約】【目的】 測定時間を短縮でき、さらに初期鏡面誤差を有している開口面に対しても正確にアンテナ放射パターンを測定できるアンテナ放射パターン測定方法を実現する。【構成】 アンテナ反射鏡の鏡面誤差、アンテナ反射鏡と近傍界測定装置のアラインメント誤差を含めたまま近傍界測定を行い、得られた近傍界データを遠方界データに変換した後に逆フーリエ変換してアンテナ反射鏡の開口面での位相分布を求め、得られた位相分布の平均的な傾きをアラインメント誤差として求め、得られたアラインメント誤差を近傍界データの位相誤差として位相分布を再計算し、アンテナ反射鏡のアンテナ放射パターンを算出することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
アンテナ反射鏡の鏡面誤差、アンテナ反射鏡と近傍界測定装置のアラインメント誤差を含めたまま近傍界測定を行い、得られた近傍界データを遠方界データに変換した後に逆フーリエ変換してアンテナ反射鏡の開口面での位相分布を求め、得られた位相分布の平均的な傾きを前記アラインメント誤差として求め、得られたアラインメント誤差を前記近傍界データの位相誤差として位相分布を再計算し、前記アンテナ反射鏡のアンテナ放射パターンを算出することを特徴とするアンテナ放射パターン測定方法。
引用特許：
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