特許
J-GLOBAL ID：200903011823649930
耐圧試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-297883
公開番号（公開出願番号）：特開平7-151820
出願日： 1993年11月29日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：
【要約】【目的】試料を劣化させることなく、耐圧試験を行えるようにする。【構成】高電圧発生部1から試料に直流の高電圧を印加し、電流検出部3で試料に流れる電流を検出する。そして、検出された電流から異常検出部6が試料の耐圧不良や絶縁不良などの異常を検出する。異常検出部6で試料の異常が検出されたとき、サイリスタQ1 をオンとして、試料に印加された高電圧を瞬時に降圧する。応答性の遅い高圧リレーなどの代わりに、応答性に優れたサイリスタQ1 を用いる。これにより、試料が異常であると判断されたとき、サイリスタQ1 で試料に印加された高電圧を瞬時に降圧し、試料を劣化させることなく、耐圧試験を行えるようにする。
請求項（抜粋）：
試料に印加される直流の高電圧を発生する高電圧発生手段と、試料に印加される高電圧の電圧値を検出する電圧検出手段と、試料に流れる電流を検出する電流検出手段と、試料に印加する高電圧の値を設定する基準電圧を発生する基準電圧発生手段と、この基準電圧発生手段の基準電圧と上記電圧検出手段で検出された電圧値との差を求めその差を無くすように高電圧発生手段から発生する高電圧の電圧値を制御する電圧制御手段と、上記電流検出手段で検出された電流から試料の異常を検出する異常検出手段と、異常検出手段で試料の異常が検出されたときオンとなり、試料に印加された高電圧を瞬時に降圧するスイッチング素子とを備えて成ることを特徴とする耐圧試験装置。
引用特許：
前のページに戻る
