特許

J-GLOBAL ID：200903011830594016

無軌道式超音波探傷走行装置

発明者： 森 邦弘 ,  拓植 宗紀 ,  武村 祐介 ,  茂木 寛悦 ,  荒川 敬弘 ,  中村 寿夫 ,  鈴木 利昭 ,  佐藤 文男 ,  田中 康仁 ,  早川 佳代子
出願人/特許権者： 東京瓦斯株式会社 ,  石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-300737
公開番号（公開出願番号）：特開平5-133942
出願日： 1991年11月15日
公開日（公表日）： 1993年05月28日
要約：

【要約】【目的】 溶接ビード全体の探傷時間を大巾に減少させることを可能とする。【構成】 検査アーム10の先端側に探触子走査アーム12を台車走行方向と交叉する方向に移動可能に装置し、この探触子走査アーム12に、溶接ビード6における欠陥箇所を広幅ビームで探索する粗探用超音波探触子13と、探索された欠陥箇所における溶接ビード6の実際の傷の位置,大きさ等を狭幅ビームで探傷する精探用超音波探触子14とを設け、粗探用超音波探触子13を溶接ビード6に沿った直線走査で欠陥箇所を探索し、欠陥箇所が判明してから精探用超音波探触子14を矩形走査して精密探傷を行う。

請求項（抜粋）：

溶接ビード上を溶接線に沿って走行し溶接ビードの超音波探傷を行う装置において、永久磁石車輪を具備する自走台車に探触子走査アームを台車走行方向と交叉する方向に移動可能に装置し、この探触子走査アームに、溶接ビードにおける有欠陥箇所を探索する粗探用超音波探触子と、探索された有欠陥箇所における溶接ビードの実際の欠陥の位置,大きさ等を探傷する精探用超音波探触子とを、それぞれ押付け機構によって被検査面まで下降できるように設けたことを特徴とする無軌道式超音波探傷走行装置。

IPC (2件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/26 501

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭51-009496
  
• 特開昭61-245055
  
• 特開昭61-124866
  
• 特開昭62-012851