特許
J-GLOBAL ID：200903011833153800
ダイオキシン類の迅速分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-170223
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014596
出願日： 1997年06月26日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：
【要約】【課題】 排ガス中に含まれるダイオキシン類を短時間で測定することができるダイオキシン類の迅速分析方法を提供する。【解決手段】 排ガス試料中のダイオキシン類のうちの1つである2,8-ジクロロジベンゾフランをレーザー多光子イオン化質量分析装置で定量して排ガス試料中の2,8-ジクロロジベンゾフラン濃度の実測値を得る。この実測値から、予め求めてある2,8-ジクロロジベンゾフラン濃度とダイオキシン類濃度との検量線を用いて排ガス試料中のダイオキシン類濃度を求める。
請求項（抜粋）：
排ガス試料中のダイオキシン類のうちの1つである代替指標化合物をレーザー多光子イオン化質量分析装置で定量して代替指標化合物濃度を得る工程と、予め求めてある前記代替指標化合物濃度とダイオキシン類濃度との相関関係に従って前記代替指標化合物濃度からダイオキシン類濃度を求める工程とを具備することを特徴とするダイオキシン類の迅速分析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/64 B
, G01N 27/62 V
