特許
J-GLOBAL ID:200903011853265150

広域パスバンドを有する導体電流強度測定用装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 北村 光司
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-544630
公開番号(公開出願番号):特表2001-521629
出願日: 1998年04月21日
公開日(公表日): 2001年11月06日
要約:
【要約】測定されるべき電流(I)は、ロゴスキーコイル(4)で囲まれ且つ複数の磁界検出器(3)が近くに配置された導体(1)を流れる。素子(2)により形成される複数の装置からの信号の合計及びロゴスキーコイルにより得られる信号は、シグナルプロセッサー(7)に適応される。例えば、プロセッサー(7)は、加算素子が後に続きロゴスキーコイルの出力に接続される第1番の遅延素子及び信号を増幅/減衰するための手段を有し、遅延時定数及び増幅/減衰係数は、装置出力(8)の信号が例えば0から10MHz以上の非常に広範囲の周波数において測定すべき電流の強度に比例するように選ばれる。
請求項(抜粋):
導体を流れる電流の強度を測定する装置であって、一方では、磁化可能なコアなしで前記導体(1)を少なくとも部分的に囲みながら第一の測定信号を提供するために適合させられるそれ自体で閉じた測定コイル(4)を有し、そして他方では、第二の測定信号を提供するために適合し、測定されるべき電流が流れる少なくとも1つの測定抵抗(15)または前記導体(1)の近くに配置された少なくとも1つの磁界検出器(3)を有しており、測定される電流のイメージである出力信号を提供するための第一、第二の測定信号を処理するための回路(2,7)を前記装置は有している。
IPC (3件):
G01R 15/18 ,  G01R 15/20 ,  G01R 19/00
FI (3件):
G01R 19/00 A ,  G01R 15/02 G ,  G01R 15/02 A

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