特許
J-GLOBAL ID：200903011856335213
製品の形状不良検出方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
米原 正章 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-327820
公開番号（公開出願番号）：特開平7-181025
出願日： 1993年12月24日
公開日（公表日）： 1995年07月18日
要約：
【要約】【目的】 検査する製品の全体形状と形状不良の内容を簡単に検出できるようにする。【構成】 製品輪郭形状パターン4と複数の全体形状パターン2を対比して最も合う全体形状パターン2を抽出してまず製品の全体形状を認識し、前記抽出した全体形状パターン2と製品輪郭形状パターン4の不一致部分のパターンを抽出し、この抽出した部分パターンと複数の形状不良パターン3を対比して最も合う形状不良パターン3を抽出して形状不良の内容を認識する。
請求項（抜粋）：
検査する製品の輪郭形状に対応した製品輪郭形状パターン4とあらかじめ入力された複数の正しい製品の輪郭形状に対応した複数の全体形状パターン2を対比して最も合う全体形状パターン2をまず抽出して製品の全体形状を認識し、この後に前記最も合った全体形状パターン2と製品輪郭形状パターン4との不一致部分のパターンを抽出し、この抽出した部分パターンとあらかじめ入力した種々の形状不良と対応した複数の形状不良パターンを対比し、最も合う形状不良パターンを抽出して形状不良の内容を認識することを特徴とする製品の形状不良検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 400
, G06F 15/70 455 A
