特許

J-GLOBAL ID：200903011886666206

浮遊粒子測定装置

発明者： 廣本 宣久
出願人/特許権者： 郵政省通信総合研究所長 ,  廣本 宣久
代理人 (1件)： 福田 武通 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-073454
公開番号（公開出願番号）：特開平10-267828
出願日： 1997年03月26日
公開日（公表日）： 1998年10月09日
要約：

【要約】【課題】流体中の微粒子を光学的に実時間で検出する浮遊粒子測定装置を提供する。【解決手段】流体を通すフロー管1の内壁の断面の大きさよりも小さい断面を有する枝管2を複数個設け、該枝管2の先端部に無反射光学窓を取付けて枝管内を密封すると共に、前記無反射光学窓に接して乱反射光吸収用カバーを配設し、該乱反射光吸収用カバーには光ビーム入射または出射穴を穿設すると共に散乱光検出器視野用穴を穿設する。

請求項（抜粋）：

流体を通すフロー管の内壁の断面の大きさよりも小さい断面を有する枝管を複数個設け、該枝管の先端部に無反射光学窓を取付けて枝管内を密封すると共に、前記無反射光学窓に接して乱反射光吸収用カバーを配設し、該乱反射光吸収用カバーには光ビーム入射または出射穴を穿設すると共に散乱光検出器視野用穴を穿設したことを特徴とする浮遊粒子測定装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02 ,  G01N 21/53

FI (3件)：

G01N 15/14 P ,  G01N 15/02 A ,  G01N 21/53 Z