特許

J-GLOBAL ID：200903012006151357

屈折率分布測定方法及び装置

発明者： 井上 享 ,  服部 保次
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-223131
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060654
出願日： 1991年09月03日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】【目的】 屈折率分布測定の測定時間の短縮を図る。【構成】 ステージ17の移動によりレーザ収束光を光ファイバ母材14の一横断面に沿って走査するに際し、リニアエンコーダ20を設けた上記ステージ17を移動しつつ、該リニアエンコーダ20からの信号をもとに1次元センサドライバ21がタイミング信号を出力し、このタイミング信号により一次元センサ16の読み取りを行う。

請求項（抜粋）：

円柱状透明体の一横断面の内部屈折率分布を求めるに際して該円柱状透明体を側面からレーザ収束光により走査してその透過光の屈折角を測定する屈折率分布測定方法において、レーザ収束光を走査するためにリニアエンコーダを有するステージを移動しつつ、該リニアエンコーダからの信号をもとに受光器を駆動するタイミングを決定して屈折角データの読み取りを行うことを特徴とする屈折率分布測定方法。

IPC (2件)：

G01M 11/02 ,  G01N 21/41

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-073822
  
• 特開昭63-033651
  
• 特開昭60-162907