特許

J-GLOBAL ID：200903012006478666

光ディスク評価装置、光ディスクの評価方法及び光ディスクの製造方法

発明者： 小林 誠司
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 多田 繁範
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-020962
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222737
出願日： 1999年01月29日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、光ディスク評価装置、光ディスクの評価方法及び光ディスクの製造方法に関し、例えばコンパクトディスク(CD)等の光ディスクの製造工程、品質管理に適用して、従来に比してジッター等の測定精度を向上することができるようにする。【解決手段】 光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット又は同一マーク間の平均値により評価値を測定する。

請求項（抜粋）：

光ディスクにレーザービームを照射して得られる戻り光を受光して前記光ディスクに形成されたピット又はマークに応じて信号レベルが変化する再生信号を出力する再生信号検出手段と、前記再生信号をアナログディジタル変換処理してディジタル再生信号を出力するアナログディジタル変換手段と、前記ディジタル再生信号を処理して前記光ディスクを評価する評価値を測定する評価値測定手段とを備え、前記評価値測定手段は、前記光ディスクの複数回のアクセスにおける同一ピット又は同一マーク間の平均値により前記評価値を測定することを特徴とする光ディスク評価装置。

IPC (2件)：

G11B 7/005 ,  G11B 7/26

FI (2件)：

G11B 7/00 636 B ,  G11B 7/26

Fターム (18件)：

5D090AA01 ,  5D090CC01 ,  5D090CC04 ,  5D090CC14 ,  5D090CC18 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090EE14 ,  5D090FF08 ,  5D090FF11 ,  5D090FF30 ,  5D090FF49 ,  5D090GG32 ,  5D090HH01 ,  5D121AA01 ,  5D121CA03 ,  5D121HH02 ,  5D121HH13