特許

J-GLOBAL ID：200903012016468723

X線異物検出方法

発明者： 芝田 健治 ,  大野 隆 ,  小林 清人
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-008880
公開番号（公開出願番号）：特開平10-208046
出願日： 1997年01月21日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：

【要約】【課題】 被検査物に含まれる異物の検出において、微小で、透過X線強度のコントラストの低い異物の検出精度を高める。【解決手段】 被検査物にX線を透過させて透過X線像を求め、求めた透過x線像の画像データを画像処理する。この画像処理は、画像データ中に含まれる異物に関する画像データと被検査物の形状にかかわる画像データとを識別し、異物にかかわる画像データを選別する。このために、X線画像の画像データ中において、異物と被検査物とで異なる周波数成分を含むことを利用し、異物に特有な周波数成分の強度をデータ処理によって抽出し、これによって、異物データを選別し、異物の検出を行う。

請求項（抜粋）：

透過X線によって被検査物の異物検出を行うX線異物検出方法において、透過X線像の画像データに対して、異物の画像サイズと少なくとも一方向について略同じ画像サイズを持つ画像フィルタを用い、高周波成分を除去する空間周波数処理を施すことにより、高周波を含まない参照画像データを生成し、前記画像データと参照画像データとの間で画像減算を行い、前記画像減算によって得た画像データの強度信号について、異物に対応したしきい値を用いてしきい値処理を行うことにより、異物検出を行うことを特徴とするX線異物検出方法。

IPC (4件)：

G06T 7/00 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/10 ,  G01V 5/00

FI (4件)：

G06F 15/62 400 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/10 ,  G01V 5/00 A